PicoQuant为时间分辨共聚焦显微镜提供不同的解决方案。现有的系统包括皮秒级时间分辨和超分辨成像功能的单分子灵敏显微镜，以及用于所有主流显微镜厂商激光扫描显微镜的升级套件，使之实现时间分辨的应用。
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全软件控制共聚焦系统，基于倒置显微镜
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激光波长从375到1064 nm可选
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VarPSF：观察量高精度调节，用于FCS和单分子FRET实验
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电动平移台，可在传动和FLIM模式下进行“图像拼接”
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扫描选项：FLIMbee 振镜扫描和压电物镜扫描
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最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元
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<700 ps通道的死区时间和 5 ps时间分辨率
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一键式自动对齐，从而获得一致的最佳性能
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借助GPU加速算法和基于上下文工作流程的FCS、FLIM 和单分子检测，以最少的用户交互快速获得结果
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您可以完全信赖的质量和精度
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节省时间、样品利用率高
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灵活性高
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集成激发光源, 倒置显微镜和多通道探测模块的一体化系统
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375nm-900nm多波段皮秒脉冲激光器
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最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元
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针对FCS和FLIM快速动力学研究，有时间相关单光子计数（TCSPC）和TTTR两种模式
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适用于2D和3D寿命成像和精确点定位的压电平移台
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两个额外光路输出口用于拓展应用
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匹配有进阶易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64
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双聚焦FCS、AFM/FLIM联用和深紫外激发的独特升级
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可提供STED附件，用于超分辨率成像
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FLIMbee 振镜扫描附件，具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度
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可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量
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基于倒置显微镜的完整共聚焦STED系统
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光学分辨率低于50nm
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640nm激发，595nm和660nm附加可选
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支持门控STED（gSTED）和gSTED-FCS
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压电平移台，用于2D，3D寿命成像和精确定位
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匹配有高级版易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64
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AFM/FLIM/STED联用的独特升级
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支持MicroTime 200可用的所有其他手段，即FLIM、FCS、FCCS、FLCS、FRET等
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FLIMbee 振镜扫描附件，具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度
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可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量
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集成激发光源, 正置显微镜和多通道探测模块的一体化系统
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脉冲二极管激光器波长从375到1060nm可选
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多探测器选项，最多可达4个探测通道
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通过XYZ-压电扫描平台实现三维寿命成像
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可选大范围扫描台，扫描行程可达几厘米
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FLIM, FRET, FCS的交钥匙系统
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紧凑、易用、免维护的组件，所有的升级系统各个配置都高度模块化，具有无限的灵活性
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最大4通道独立探测模块的高灵敏系统
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荧光寿命探测范围从<100ps到微秒级别
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高端易用、匹配多种分析方式的数据收集和分析软件
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可用于各向异性和厚组织FLIM
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新功能：rapidFLIMHiRes——利用超快FLIM成像和出色的5 ps时间分辨率实现动态过程可视化
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功能强大的64位数据采集和分析软件
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单点，2D，和3D的TTTR数据采集，包含有可在线预览FLIM，FCS，time
trace和TCSPC数据的功能
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FLIM、快速FLIM和FLIM-FRET
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FCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS，符合相关，总相关分析
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FRET、PIE-FRET
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荧光随时间的分析及单分子荧光爆发现象分析
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各向异性分析
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TCSPC寿命拟合，包括先进的误差分析
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基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能
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![单光子计数共聚焦显微镜[新品]](/upload/image/20220922/20220922093548_70952.png "单光子计数共聚焦显微镜[新品]")
